光纜線路施工中大衰耗點(diǎn)出現(xiàn)的原因
發(fā)布日期：2019-06-20
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光纖具有傳輸數(shù)率快、損耗低、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于長距離通信，很多追求高速率的網(wǎng)絡(luò)也大量使用光纜傳輸。光纜在布置時(shí)，常常會(huì)產(chǎn)生一些大衰耗點(diǎn)，這些衰耗點(diǎn)對網(wǎng)絡(luò)通信有著巨大影響。那么，這些衰耗點(diǎn)是如何產(chǎn)生的？下面一起來看看吧。
光纜大衰耗點(diǎn)產(chǎn)生的幾種現(xiàn)象和原因
1,敷設(shè)時(shí)產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在光纜施工中，由于光纜敷設(shè)長度一般在2～3KM直埋敷設(shè)時(shí)，穿越的障礙物較多，在施工中，敷設(shè)人員較多，敷設(shè)距離較遠(yuǎn)，難以保證所有敷設(shè)人員協(xié)調(diào)行動(dòng)，特別是通過障礙物較多時(shí)，如：穿越防護(hù)鋼管，拐彎、上下坡等，從而出現(xiàn)俗稱的光纜打背扣(出現(xiàn)死彎)現(xiàn)象，對光纜造成嚴(yán)重傷害，一旦發(fā)生死彎現(xiàn)象，此處必然會(huì)出現(xiàn)一個(gè)大衰耗點(diǎn)，嚴(yán)重的會(huì)發(fā)生部分或全部光纖斷裂現(xiàn)象，這是光纜 施工中容易出現(xiàn)的故障現(xiàn)象。此外，在敷設(shè)光纜時(shí)，光纜端頭的光纜最容易受到損傷，在接續(xù)時(shí)，往往在接續(xù)點(diǎn)處顯示有較大衰耗值，此時(shí)，即使多次重復(fù)熔接，也不能降低接續(xù)損耗值，從而形成一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)。
2,接續(xù)過程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在光纜接續(xù)過程中，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)是經(jīng)常發(fā)生的，我們一般用OTDR(光時(shí)域反射儀)進(jìn)行監(jiān)測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點(diǎn)的衰耗值，具體測試時(shí)，采用雙向監(jiān)測法，由于光纖制造過程中存在的差異性，兩根光纖不可能完全一致，總是存在模場直徑不一致現(xiàn)象，從而導(dǎo)致了用OTDR所測的損耗值并不是接續(xù)點(diǎn)的實(shí)際損耗值，其數(shù)值有正有負(fù)，一般用雙向測試值的算術(shù)平均值作為實(shí)際衰耗值。在接續(xù)時(shí)，一般用實(shí)時(shí)監(jiān)測法，基本能保證熔接損耗達(dá)到控制目標(biāo)，但經(jīng)常產(chǎn)生大損耗點(diǎn)的原因是在熔接完畢后進(jìn)行光纖收容時(shí)，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，即形成一個(gè)大衰耗點(diǎn)。因?yàn)?550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產(chǎn)生一個(gè)微彎點(diǎn)，或盤纖時(shí)，彎曲半徑過小，光纖信號在此處也產(chǎn)生較大的衰耗，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成了一個(gè)較大的衰耗臺階;另外，一個(gè)比較容易忽視的原因是光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定光纜時(shí)，由于光纜在接頭盒內(nèi)固定的不是很牢固，造成光纜擰轉(zhuǎn)，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺階。
3,運(yùn)輸和裝卸造成的大衰耗點(diǎn)
在光纜運(yùn)輸?shù)绞┕がF(xiàn)場時(shí)，由于現(xiàn)場環(huán)境比較惡劣，特別是敷設(shè)鐵路通信光纜時(shí)，吊車往往無法到達(dá)施工現(xiàn)場，此時(shí)，常常是通過人力裝卸光纜，在光纜卸下的過程中，外層光纜經(jīng)常受到損傷，原因是光纜盤直徑過小，導(dǎo)致外層光纜離地面距離過近，由于現(xiàn)場地面土質(zhì)軟硬不一，崎嶇不平，在滾動(dòng)光纜盤的過程中，光纜盤陷入地面，導(dǎo)致外層光 纜被地面硬物硌壞，主要原因是部分廠家為降低生 產(chǎn)成本，采用較小的光纜盤。此外，光纜盤未用木板進(jìn)行包封(有些是鐵架光纜盤，無法用木板進(jìn)行包封)，而僅用塑料布在光纜外層進(jìn)行包裹，或者是單盤測試后，光纜盤包封未恢復(fù)，起不到應(yīng)有的防護(hù)作用，當(dāng)光纜外層被石頭等硬物硌傷后，光纖在束管中受壓，即產(chǎn)生一個(gè)衰耗臺階，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)。
4,成端過程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在光纜成端過程中，也經(jīng)常會(huì)產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)。在成端時(shí)，由于一般不進(jìn)行熔接損耗監(jiān)測，僅憑經(jīng)驗(yàn)操作，因此，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)的幾率也大增。此外，在光纖熔接后安裝收容盤時(shí)，往往造成收容盤附近 的光纖束管彎曲半徑過小或造成光纖束管擰轉(zhuǎn)變形，使光纖在此處產(chǎn)生一個(gè)較大的衰耗點(diǎn)，此類大衰耗點(diǎn)一般比較隱蔽，不像線路中間的大衰耗點(diǎn)用OTDR可以直接測出。
